熱門關鍵詞： 測角儀，應力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設備，波片相位延遲，剪切
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該系統(tǒng)利用PEM調制光束的偏振狀態(tài)、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態(tài)。這就導致了一個偏振狀態(tài)相對于另一個偏振狀態(tài)的光延遲測量結果是90°。利用這些數(shù)據可以對雙折射、快速軸向和理論殘余應力測量進行評估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技術被用于評估光學雙折射
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